المستودع الرقمى

//uquui/

تقرير الوحدة

تقرير المجموعة

 -

 Thickness measurement of evaporated thin metalic film by multiple beam interference frings at reflection [thesis]

 Kadah, Fika Abdul-Ghany Saeed


//uquui/handle/20.500.12248/98373
0 التحميل
353 المشاهدات

Thickness measurement of evaporated thin metalic film by multiple beam interference frings at reflection [thesis]

رقم الطلب : 11885
الناشر :1982 1402
تاريخ النشر : -
الوصف : 21 Paper.
نوع الوعاء : ماجستير
الكلية : التربية
القسم : الفيزياء
يظهر في المجموعات : الرسائل العلمية المحدثة

العنوان: Thickness measurement of evaporated thin metalic film by multiple beam interference frings at reflection [thesis]
المؤلفون: Kadah, Fika Abdul-Ghany Saeed
Mokhtar, S. Supervision;Umm Al-qura University
الناشر :: 1982 1402
الوصف :: 21 Paper.
14
Master Thesis
الرابط: https://dorar.uqu.edu.sa/uquui/handle/20.500.12248/98373
يظهر في المجموعات :الرسائل العلمية المحدثة

الملفات في هذا العنصر:
ملف الوصف الحجمالتنسيق 
b1162405x_2.pdf
"   الوصول المحدود"
63.53 kBAdobe PDFعرض/ فتح
طلب نسخة
b1162405x_3.pdf
"   الوصول المحدود"
14.27 kBAdobe PDFعرض/ فتح
طلب نسخة
b1162405x_5.pdf
"   الوصول المحدود"
19.7 kBAdobe PDFعرض/ فتح
طلب نسخة
b1162405x_6.html
"   الوصول المحدود"
837 BHTMLعرض/ فتح
طلب نسخة
اضف إلى مراجعى الاستشهاد المرجعي طلب رقمنة مادة

تعليقات (0)



جميع الأوعية على المكتبة الرقمية محمية بموجب حقوق النشر، ما لم يذكر خلاف ذلك